雜散光是紫外可見分光光度計非常重要的關鍵技術指標•₪╃。它是紫外可見分光光度計分析誤差的主要來源, 它直接限制被分析測試樣品濃度的上限•₪╃。當一臺紫外可見分光光度計的雜散光一定時, 被分析的試樣濃度越大, 其分析誤差就越大•₪╃。astm 認為: “雜散光可能是光譜測量中主要誤差的來源•₪╃。尤其對高濃度的分析測試時, 雜散光更加重要”•₪╃。有文獻報道, 在紫外可見光區的吸收光譜分析中, 若儀器有1%的雜散光, 則對2. 0a 的樣品測試時, 會引起2%的分析誤差時, 說明儀器中有這種雜散光存在•₪╃。但必須注意, 當儀器存在零點誤差時, 有可能造成混淆•₪╃。如果在不透明的樣品上塗上白色, 則可增加樣品本身反射和散射的效果, 可以提高測量靈敏度•₪╃。第二種形式是指測試波長以外的▩·、偏離正常光路而到達光電轉換器的光線•₪╃。它通常是由光學系統的某些缺陷所引起的•₪╃。如光學元件的表面被擦傷▩·、儀器的光學系統設計不好▩·、機械零部件加工不良, 使光路位置錯移等•₪╃。
 

　　目前, 測試雜散光常用的方法是所謂“ 截止濾光法” 或稱作“ 濾光片法” •₪╃。主要是採用濾光片或濾光液來測試紫外可見分光光度計的雜散光•₪╃。有時也採用he-ne 鐳射器的632. 8nm 來測試雜散光•₪╃。具體做法是在離632. 8nm±5nm 處進行測試, 測出的數值與632. 8nm 相比就是雜散光•₪╃。“截止濾光法” 的具體測試方法: 儀器冷態開機, 預熱0. 5h , 如用“濾光片法” 測試, 則參比為空氣; 如用濾光液來測試, 則參比為溶劑(若用nai▩·、nano2 水溶液, 則參比為蒸餾水)•₪╃。設定儀器的縱座標為% t , 橫座標為波長nm) , 用濾光液時, 試樣比色皿中裝濾光液, 參比比色皿中裝溶解液, 將波長調到相應的波長上( nai 為220nm▩·、nano2 為340nm) 進行測試•₪╃。